粒度分析仪

三种技术涵盖所有需求

通过不同的技术，Litesizer DLS 系列、Litesizer DIF 系列和 Litesizer DIA 系列可以涵盖从纳米级至毫米级的粒度。根据您的需求选择正确的粒度分析仪。 

使用 Litesizer DIF 系列通过湿式或干式分散来分析最大可及毫米级尺寸的颗粒。您可以借助 Litesizer DLS 设备分析液体分散液中的样品颗粒，低至纳米级范围。借助 Litesizer DIA 系列，您还可以使用液体、重力下落或压缩空气分散单元测定粒度和形状信息。

Litesizer DLS 系列：三款仪器，多达六种测量模式

我们的 Litesizer 不仅能够通过单角度或多角度粒度测定 (MAPS) 来测定粒度。您还可以测定颗粒浓度、zeta 电位、分子质量、透射率和折射率。荧光和偏振滤光片可用于所有三个测量角度或特定的单个角度 — 允许使用同类粒度分析仪无法实现的分析类型。

Litesizer DIF 系列：从开创者到领先者

基于近 60 年的激光衍射专业知识，Litesizer DIF 系列提供粒度从 10 nm 到 3.5 mm 的先进测量方式。这款激光衍射粒度分析仪拥有一流的光学元件，及强大的 10 mW 和 25 mW 激光器，以及更为广泛的衍射角检测范围，即 0.01° 至 170°。

Litesizer DIA系列：一键式动态图像分析

借助 Litesizer DIA 系列，只需几秒钟即可测量粒度并获取数百万个颗粒的形状信息。只需一步，即可在湿法、干法和自由落体三个分散单元中快速切换 - 从而对几乎任何样品实现出色的分散。依靠自动化功能来最大程度减少工作量，并依靠安全功能来保护您免受危险的样品扩散和仪器损坏。

Kalliope：将操作员的工作难度将至最低的颗粒分析软件

使用 Kalliope 优化您的测量，只需三次点击即可开始测量。借助该软件控制产品组合中的所有粒度分析仪。Kalliope 是一款直观的软件，可以在同一个数字空间中显示所有输入参数、测量结果和分析。使用 Kalliope，专注样机及测试而非如何使用软件。Kalliope 符合 21 CFR Part 11 规定，结果完全可追溯。